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X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Munich, Bayerisches Hauptstaa...

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B2FIND2026-04-29 收录
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XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 120s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and UV light) analysis of inks from 37 Emmeran...

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