3.SVRN_OS_DOI3_Standard Algorithm for Determining Critical Length ($L_{crit}$) in Sub-1nm Semiconductor Devices and Physical Roadmap f

Zenodo 제출 자료: SVRN_K0 — 논문 III 1. 제목 SVRN-OS Lcrit 표준 알고리즘: 1nm급 이하 반도체 소자의 임계 길이(L_crit) 결정 및 물리 로드맵 2. 식별자 필드 값 시리즈 DOI 10.5281/zenodo.18325543 참조 DOI (논문 0) 10.5281/zenodo.18688294 참고 DOI (논문 I) 10.5281/zenodo.18687866 참고 DOI (논문 II) 10.5281/zenodo.18689820 본 논문 DOI (논문 III) 10.5281/zenodo.18694749 특허 KR 10-2026-0017941 SHA-256 2019f73e304c627d13ee18bb683c810df52cda95cb99378fa941f77da2f38629 3. 요약 본 논문은 SVRN-OS 35개 소자 반도체 로드맵 전체에 걸쳐 임계 인터커넥트 길이(Lcrit)와 광자 라우팅 트리거 기준을 결정하기 위한 공학적 설계 알고리즘을 확립합니다. 제0편 논문(병목 현상 분석)과 제I편 논문(구리 인터커넥트의 양자적 파산), 제II편 논문(SVRN_K0 하드웨어 사양)을 기반으로, 본 문서는 SVRN-OS 이론 시리즈의 표준 알고리즘 기준서로 기능합니다. 알고리즘은 세 가지 기본 물리 상수 — 벌크 비저항(ρ₀), 전자 평균 자유 경로(λ), 양자 저항(RQ) — 를 사용하며, 모두 동료 심사 문헌 및 CODATA 2019에서 독점 수록합니다. Landauer-Büttiker 평균 자유 경로 보간식 T = λ/(λ+L)을 라우팅 결정 변수로 채택합니다: T < 0.5 → PhoLink(광자 라우팅) 트리거 T ≥ 0.5 → ChoTopo(위상 보호 접촉) 유지 핵심 설계 판정 메커니즘 네 가지가 명시되어 있습니다: Lcrit 정의 — Lcrit ≡ λ (T = 0.5 조건). 채널/배선 길이가 해당 재료의 전자 평균 자유 경로와 동일할 때를 임계점으로 정의 (Cu: 39 nm, Si: 10–20 nm, InGaAs: 100–300 nm) 나노스케일 저항 스케일링 — ρ_wire ≈ ρ₀ × (1 + A·λ/d), Fuchs-Sondheimer 모델 기반 표면 산란 계수 A = 0.5–1.0 적용 BEOL Cu 인터커넥트 판정 — 1nm급 노드 실효 T ≈ 0.16 → 전 소자 강력 PhoLink 트리거 확인 35개 소자 로드맵 — DOI No. 4(Logic)~11(양자/극한 스케일)의 판정 기준 사전 확립 Cu, Ru, Co, Mo, Si, InGaAs, Bi₂Se₃ TSS 7개 재료의 물성 상수가 CODATA 2019 및 Gall(JAP 2016/2020) 1차 문헌을 기준으로 명시됩니다. 본 문서는 DOI No. 4–11 모든 소자별 논문의 규범적(normative) 설계 기준서입니다. 수치 변경 시 본 문서를 먼저 개정하고 후속 논문에 반영합니다. 【한계 명시】 T = λ/(λ+L)은 공학적 근사(engineering approximation)이며, 보편 물리 법칙(fundamental law)이 아닙니다. 표 2.2의 λ값은 벌크 상한치이며, 실제 나노구조에서는 표면 거칠기·grain boundary·접촉 저항에 의해 λ_eff << λ_bulk가 될 수 있습니다. 4. 진실의 근원 선언 본 문서는 SVRN-OS 알고리즘 시리즈의 표준 기준서이며, DOI No. 4–11의 모든 소자별 Lcrit 계산의 수식·상수·판정 기준 원본입니다. 2026년 2월 19일 기준으로 검증된 물리 상수 및 알고리즘만 유효한 설계 기준으로 채택됩니다. 모든 프로토타입 시대의 상수(DOI 레코드 1–52)는 본 제출물로 공식 대체됩니다. 5. 키워드 Lcrit · Landauer-Büttiker · 평균 자유 경로 · PhoLink · ChoTopo · BEOL 인터커넥트 · 광자 라우팅 · 탄도성 전송 · 반도체 로드맵 · SVRN-OS · CODATA 2019 · 나노스케일 저항 6. 관련 작품 (동일 시리즈) 논문 0: 병목 현상 분석 — 10.5281/zenodo.18688294 논문 I: 구리 인터커넥트의 양자적 파산 — 10.5281/zenodo.18687866 논문 II: SVRN_K0 하드웨어 사양 — 10.5281/zenodo.18689820 논문 III: Lcrit 표준 알고리즘 (본 문서) — 10.5281/zenodo.18694749 시리즈 루트 DOI: 10.5281/zenodo.18325543 인증: MDK_v1 | 조민수 | KR_10-2026-0017941