氧化物阵列器件样品电学性能及稳定性测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-03-21 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=69b82931195d2623ac63a863&type=1
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资源简介：
该数据集基于第三方测试平台，采用半导体参数分析仪对氧化物阵列器件样品的关键电学参数进行系统测试，涵盖场效应迁移率、电流开关比以及在正、负偏置应力条件下引起的阈值电压漂移行为。
提供机构：
北京大学深圳研究生院
