Meetlocaties PFOS - diep, beïnvloed

In deze kaart zijn de meetlocaties te zien die door het RIVM bemonsterd zijn ten behoeve van het onderzoek naar de afleiding van de definitieve achtergrondwaarde PFAS in landbodem. De kaart laat meetwaarden zien van PFOS in de diepere bodemlaag (50 - 100 cm) in potentieel beïnvloede gebieden. Omdat de afleiding van de definitieve achtergrondwaarden is gebaseerd op de toplaag van de onbeïnvloede landbodem, zijn deze meetwaarden niet meegenomen in de afleiding van de definitieve achtergrondwaarde.

本图展示了荷兰公共卫生与环境研究院（RIVM）为研究土壤中持久性全氟和多氟化合物（PFAS）背景值解析而采集的采样点位置。图中呈现了潜在受影响区域深层土壤层（50-100厘米）中PFOS的测量值。由于最终背景值的解析基于未受影响土壤表层，因此这些测量值未纳入最终背景值的解析过程。