Supplementary Online Material
收藏aip.figshare.com2024-06-04 更新2025-01-15 收录
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资源简介：
Detailed sample fabrication and characterization procedure, XRR best-fit results, TEM sublayer intensity variation profiles, different frequency response regimes of σ_ac profiles, measured and deconvoluted SR-XPS spectra of core levels in 0.8A-0.8T NL
详细的样品制备与表征流程，X射线衍射最佳拟合结果，透射电子显微镜（TEM）亚层强度变化轮廓，σ_ac 响应频率域的不同响应模式，以及0.8A-0.8T NL中核能级测得与去卷积的同步辐射X射线光电子能谱（SR-XPS）
提供机构：
AIP Publishing
