Research on the TID Effects of a BCD Process Encoder Control Circuit
收藏科学数据银行2025-02-07 更新2026-04-23 收录
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资源简介：
The dataset includes the total dose effect test, module circuit output function test, and Multisim simulation data of a BCD process encoder conducted at Xinjiang Institute of Physical and Chemical Technology in 2024. The number of tables in the dataset is 1, with 3 records. The row labels are the names of the test circuits, and the column labels are the test port settings.
提供机构：
北京燕东微电子科技有限公司; 新疆极端环境电子学重点实验室，特殊环境条件功能材料与器件重点实验室，中国科学院新疆理化技术研究所; 中国科学院大学
创建时间：
2025-01-24
