耦合效率数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=683de78b195d261233189225&type=1
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资源简介：
本数据集主要为国家重点研发计划超高品质因子光子集成芯片（2021YFB2801200）有关耦合效率的数据。
本数据集基于实验室工艺加工的氮化硅芯片。耦合效率的测试基于可调谐激光器以及校准的功率计探测输出功率，记录不同条件下输出功率尽心计算得出。数据集主要是面向高耦合效率微腔建设，主要记录了耦合效率测试数据。数据量约768MB。
提供机构：
北京大学
