基于液氦的超导计算机芯片测试低温系统的方案设计及测试数据

本套系统为基于液氦的超导计算机低温测控系统（用于V4及V5超导计算机系统性能测试）。该系统具有倒置双内胆、换热器冷屏、组合式磁屏蔽、宽口可拔芯片、短测试杆特点。系统液氦最大存储容积为116L，无测试杆的液氦蒸发率为0.6L/h，插入测试杆的液氦蒸发率为0.8L/h。测试杆插入口直径60mm，插入过程液氦消耗约2~3L。该系统能进行稳定的液氦压力控制，自动将下内胆的液氦注入上内胆，以保证上内胆中的超导CPU芯片始终处于液氦中。超导芯片区域的磁屏蔽性能为5nT。系统在超导CPU芯片正常测试与工作时能方便地实现液氦补给，不会产生液氦的温度波动。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集包含基于液氦的超导计算机芯片测试低温系统的方案设计及测试数据，用于V4及V5超导计算机系统性能测试。系统具有倒置双内胆、换热器冷屏等设计，液氦最大存储容积116L，蒸发率低至0.6L/h（无测试杆），能实现稳定的液氦压力控制和自动注入，确保超导CPU芯片始终浸没在液氦中。测试杆插入口直径60mm，插入过程液氦消耗约2~3L，超导芯片区域的磁屏蔽性能为5nT。