Efficiency calibration of HPGe detector without standard source based on surface point detection efficiency database

无标准源的效率校准方法在高纯锗探测器的体源效率校准中具有方便、快速、低成本等优点。体积源的检测效率可以通过对预先准备好的数据库中不同位置的点源检测效率进行数值积分来获得。然而，这种方法受到点源众多位置的限制，导致计算时间较长。对于大体积源或远距离源，通常需要补充计算以更新检测效率数据库。[目的]针对上述问题，本文提出了一种建立检测效率数据库的新方法，并结合数值积分 批注 [宝张1]： 编辑老师问题2：英文摘要部分Methods 部分目前太少，需要补充至4-5行; 批注 [宝张2]： 编辑老师问题1：补充关键词至4-5个; 实现体积源检测效率的高效计算。[方法]首先，利用Geant4软件对入射到探测器表面的γ射线的位置和方向进行采样，从而建立不同入射位置和方向下的探测效率数据库。然后，通过积分计算γ射线在被本体源介质自吸收后到达探测器表面的效率。最后，结合γ射线到达探测器表面的效率与探测效率数据库，通过数值积分实现对HPGe的体探测效率标定。[结果]体积源计算结果表明，该方法与完全 Geant4 仿真结果的检测效率相对偏差在 6% 以内，而点源的最大相对偏差小于 8%。这些发现与常用的体积源效率校准方法一致。此外，对于相同的精度，使用此方法建立数据库所需的时间已减少到原始时间的十分之一。[结论]这表明该方法能够有效提高数学效率定标的计算速度，有利于无源效率定标软件的发展。