结构影响空穴提取能力和载流子迁移率规律的测量数据集

数据内容：本数据针对课题二中关键科学问题“如何精确表征有机/无机复合纳米材料界面、电子/空穴传输层界面分子结构与界面激发态过程，提炼其影响光电化学转换效率等性能的基本规律”，围绕空穴传输层界面分子结构如何调控材料空穴提取能力这一问题，结合和频光谱、荧光光谱仪、暗电流-电压曲线测量、X射线衍射(XRD)、紫外-可见吸收光谱等多种手段，揭示了P3ATs侧链有序度及其共轭骨架平整度如何影响纯3D钙钛矿/P3ATs异质结构空穴提取能力和P3ATs载流子迁移率的规律。
采集方案：1）利用荧光光谱仪(爱丁堡公司，FLS920)测量纯3D钙钛矿、3D钙钛矿/P3ATs异质结构室温下的稳态荧光发射光谱，用激发波长为400 nm脉冲氙灯来激发钙钛矿薄膜，瞬态荧光光谱的激光光源为皮秒脉冲激光器。2）利用和频光谱系统测量P3ATs侧链有序度及其共轭骨架平整度，采用近全反射几何构型，高灵敏度EMCCD（Andor Newton 970）采集P3ATs和频信号，所有和频光谱实验都在常温下进行。4）采用暗电流-电压曲线（吉时利电流源表）测量ITO/P3ATs/Al器件的载流子迁移率。利用X射线衍射(Philips X'Pert Pro Super diffractometer)证明3D钙钛矿/P3ATs异质结构中P3ATs的低结晶度。紫外可见吸收光谱在紫外可见吸收光谱仪(日本Shimadzu公司)上测量。数据体量为12.8MB。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于探究P3ATs侧链有序度与共轭骨架平整度如何影响纯3D钙钛矿/P3ATs异质结构的空穴提取能力及载流子迁移率规律。通过结合和频光谱、荧光光谱仪、暗电流-电压曲线等多种测量手段，揭示了界面分子结构对光电性能的调控作用。数据体量为12.8MB，包含221个文件，支持相关研究。