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武汉网锐检测射频封装带宽频率响应

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国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=6978e133195d2659548a4f21&type=1
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资源简介:
本数据集来源于武汉网锐检测科技有限公司的信息产业光通信产品质量监督检验中心,针对样品编号为2025-5781的硅基异质光子集成工艺芯片开展的射频封装带宽频率响应测试,数据量为3.42MB。测试对象包括电光转换芯片(MZM发射芯片)与光电转换芯片(PD接收芯片),实验旨在表征其射频封装通道数和其6 dB带宽与S参数频率响应特性。实验依据《YD/T 701-1993 半导体激光二极管组件测试方法》和《GB/T 24365-2009 通信用光电探测器组件测试方法》进行,测试系统由可调谐光源、源表、偏振控制器、光放大器及矢量网络分析仪组成。通过对不同通道的S参数测量与6 dB带宽提取,系统性获取了电光及光电芯片在射频封装层面的频率响应数据。数据以实测S参数与对应6dB带宽形式记录,时间精度与空间范围由矢量网络分析仪带宽及测试通道数共同限定。本数据集为研究硅基异质光子集成器件在高频工作条件下的信号完整性、封装带宽及通道隔离提供了重要参考,也可为光电互连、片上通信及高速调制器封装设计提供关键实验支撑与模型验证依据。
提供机构:
中国科学院半导体研究所
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