工业控制强实时高可靠MCU芯片老炼测试数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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资源简介：
介绍数据的时间范围、时间精度、空间范围、空间精度、计算方式等。
数据内容：本项数据是用高低温箱对高可靠强实时微控制器芯片RIC630进行老炼测试所得到的结果，csv文件由高低温箱测试结果导出。
测试设备：Espec SH-662高低温箱。
测试条件：本项数据在室温环境下采集，芯片供电电压3.3V，高低温箱精度为±0.3℃。
对应指标：高可靠强实时微控制器芯片可承受的老炼时间。
提供机构：
杭州中天微系统有限公司
