低温下硅纳米梁的声子计数数据集

该实验测试数据在电子科技大学完成。采用有限元分析方法对纳米梁（微腔）的光学模式、声学模式以及光声耦合系数进行样品加工之前的计算，SOI片上制作的纳米梁的厚度在220nm左右。实验数据主要包括微腔在室温和低温下的光学模式和声学模式的基本表征，所以采集的数据分别来自示波器和频谱仪。实验中使用的示波器的带宽为70MHz，采样率为2 GS/s；频谱分析仪可以接收2 Hz~26.5 GHz范围内的信号，相位噪声小于136dBc(1Hz)，最大分析带宽为2000MHz。该实验测试数据在电子科技大学完成。采用有限元分析方法对纳米梁（微腔）的光学模式、声学模式以及光声耦合系数进行样品加工之前的计算，SOI片上制作的纳米梁的厚度在220nm左右。实验数据主要包括微腔在室温和低温下的光学模式和声学模式的基本表征，所以采集的数据分别来自示波器和频谱仪。实验中使用的示波器的带宽为70MHz，采样率为2 GS/s；频谱分析仪可以接收2 Hz~26.5 GHz范围内的信号，相位噪声小于136dBc(1Hz)，最大分析带宽为2000MHz。
对于声子数的测量，使用的是赋同科技的超导纳米线单光子探测器，通过对蓝边带和红边带散射的光子进行计数，运用边带散射理论间接地得出微腔的平均声子占据数。分别使泵浦激光频率处于微腔光学谐振频率的蓝(红)边带，保持在蓝边带或红边带的探测激光进入到微腔内的光子数相同，使用的激光功率都为nc=100，均进行2个小时的计数。将数据导出并画出在一个脉冲周期30ns内蓝边带散射光子与红边带散射光子的计数直方图。就可计算出平均声子占据数〈n〉=0.14±0.03。
数据使用Comsol Multiphysics和Origin打开。