In Process Porosity Detection Dataset by Means of Optical Measurement Technol...

B2FIND2026-04-28 收录

制造质量控制

在线孔隙检测

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In-Process Porosity Detection Dataset by Means of Optical Measurement Technology in PBF-LB/M Please see provided Jupyter Notebook "README" for further information.

贴片电感表面缺陷检测数据集

贴片电感缺陷检测

制造质量控制

本数据集用于实现贴片电感的自动化缺陷检测，解决当前市面上贴片电感数据稀缺问题，通过构建该数据集，为后续贴片电感缺陷检测模型算法提供训练数据支撑。结合缺陷检测算法，能实时检测打反漏磁等致命缺陷，自动拦截不良品，减少人工复检的人力物力消耗。根据该真实生产过程收集的缺陷数据，建立缺陷-工艺参数关联模型，优化制作参数。

深圳市数据知识产权登记系统2025-08-26 更新850

FICS PCB Image Collection (FPIC)

PCB检测

制造质量控制

印刷电路板的光学图像以及任何文本、徽标和表面贴装器件 (SMD) 的详细注释。有数百个样本，涵盖各种制造地点、尺寸、节点技术、应用等。 pcb_image：每个 PCB 表面和背面的光学图像，带有唯一标识符。 color_checker：用于考虑环境照明因素的调色板以及照片分辨率的比例参考。每个 pcb 图像指示它与哪个颜色检查器相关联。 ocr_annotation：光学字符识别注释。这包括 P

OpenXLab220

基于三坐标测量系统的机床构件精度检测与质量分析数据集

几何精度检测

制造质量控制

本数据集适用于企业采用三坐标测量系统对机床构件进行尺寸精度及形位误差检测的应用场景，适用范围为纳入图号管理、批次管理和常规检测流程的机床构件。在企业已对检测批次号、构件图号、测量日期、测量点数量以及长度偏差、平面度误差、圆度误差、位置度误差、同轴度误差、重复测量偏差等检测信息进行记录的条件下，本数据集可用于对不同构件、不同批次、不同检测时间形成的检测结果进行统一归集、查询、比较和结果整理。在构件

深圳市数据知识产权登记系统2026-05-20 更新120

"Semi-AD (Semiconductor Anomaly Detection) dataset"

半导体缺陷

制造质量控制

"The Semi-AD (Semiconductor Anomaly Detection) dataset is a specialized benchmark for unsupervised comparison-based anomaly detection (AD) in the semiconductor manufacturing. This dataset addresses th

DataCite Commons2026-02-26 更新310

Data for Predicting Quality using ML

机器学习

制造质量控制

Data set to do:Analysis of ML Techniques in Predicting the Quality of High-Strength Titanium Alloy parts manufactured, using a Cyber-Physical Quality System Framework

DataCite Commons2022-03-24 更新140

In Process Porosity Detection Dataset by Means of Optical Measurement Technol...

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