耳蜗基底膜原子力显微测量数据

耳蜗基底膜原子力显微测量主要面向基底膜生物力学参数测量研究。所有样品在BioScope resolve （Bruker, Billerica, MA, USA）上通过流体中的定量纳米机械原子力显微镜（QNM-AFM）进行表征。使用氮化硅探针（PFQNM-LC-A-CAL, Bruker）获得力映射，预校准弹簧常数为0.076 N/m，尖端半径为70 nm。偏转误差触发阈值为10 nm。所有力曲线在Nanoscope Analysis软件（Bruker）中使用赫兹模型进行处理，样品泊松比为0.5。实验过程中，在同一样品的4个角度，每个角度选取3个20 μm间距的点进行AFM压痕实验。最后得到基底膜的力-位移曲线，直至探头位置移至基底膜上方，这个位置在光学显微镜下可以分辨出来。将上述四个测试部位分离并保存在人工脑脊液中，然后将分离的脑转移放在用强环氧胶粘剂预处理的载玻片上，以防止原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）测量时样品抬起。对于每个位置，探头施加在基底膜上的力在尖端振荡的整个过程中被测量，生成力与距离曲线，以获得样品的杨氏模量。在上述四个区域各取三个定位点进行测量。数据量50.63MB。