CCD Scan 8032: NiFe_8032
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资源简介：
Calibration data set measured at Beamline 4.0.2 of the Advanced Light Source (Berkeley, CA) using the resonant soft x-ray scattering endstation.
Scan ID: 8032
Calibration standard with 200-nm X 200-nm pitch
创建时间：
2020-06-30
