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1200V600A IGBT器件性能评测数据集

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc6cfbb16e07753c346be&type=1
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官方服务:
资源简介:
根据项目课题要求,对基于铝碳化硅基板和氮化硅陶瓷覆铜衬板研制的1200V/600A 全桥IGBT器件进行第三方性能评测,检测依据基于GB/T 29332-2012、IEC60747-2:2016、IEC60747-15:2010,主要记录了器件常温静态参数测试、高温静态参数测试、高温动态参数、高温反偏安全工作区测试、绝缘耐压测试、热阻测试结果。
提供机构:
株洲中车时代半导体有限公司
搜集汇总
数据集介绍
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背景与挑战
背景概述
该数据集针对1200V/600A全桥IGBT器件,依据相关国家标准和国际标准进行了性能评测,包括常温与高温下的静态、动态参数以及安全性和热阻测试。数据来源于国家重点研发计划项目,聚焦于封装基板材料在新能源汽车电驱模块的应用评估。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
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