1200V600A IGBT器件性能评测数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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根据项目课题要求，对基于铝碳化硅基板和氮化硅陶瓷覆铜衬板研制的1200V/600A 全桥IGBT器件进行第三方性能评测，检测依据基于GB/T 29332-2012、IEC60747-2:2016、IEC60747-15:2010，主要记录了器件常温静态参数测试、高温静态参数测试、高温动态参数、高温反偏安全工作区测试、绝缘耐压测试、热阻测试结果。
提供机构：
株洲中车时代半导体有限公司搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集针对1200V/600A全桥IGBT器件，依据相关国家标准和国际标准进行了性能评测，包括常温与高温下的静态、动态参数以及安全性和热阻测试。数据来源于国家重点研发计划项目，聚焦于封装基板材料在新能源汽车电驱模块的应用评估。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
