基于室温极化技术制备高品质薄膜铌酸锂光学超晶格光子器件及损耗指标测试实验数据集

本数据集收集了2019年12月至2024年11月，薄膜铌酸锂基于室温极化技术制备高品质薄膜铌酸锂光学超晶格光子器件及损耗指标测试实验数据，旨在支持集成光学领域，基于光学超晶格的量子光学及经典光学的相关研究。数据集包括了所制备光学超晶格芯片的实物照片，损耗测试示意图，以及基于法布里-珀罗谐振腔损耗测试结果及第三方测试报告。本数据集采用了集成光学中科学的、已被同行认可的测量方法及表征手段，继而保证了数据采集的精确可靠。在潜在利用价值与意义方面，该数据刻画了基于铌酸锂薄膜的光学超晶格的性质，展示了具有增强非线性相互作用和保持低损耗的优越性，为铌酸锂光学超晶格的研究提供了可靠的数据支持，具有重要的应用价值。