Characterization of epsilon-Fe2O3 and AlFeO3 films
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-2133392130
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资源简介：
Initial characterization of e-Fe2O3 and AlFeO3 films. XAS/XMCD and RIXS/RIXS-MCD of films at 300K in field with orientation dependence.
提供机构：
European Synchrotron Radiation Facility
创建时间：
2025-04-22
