Data on peculiarities of microstructure of diffusion zone and reaction zone in Al-Co system

Raw data 1. Backscattered electron image of intermetallic multilayer zone in Al-Co system. Instrument: 8230, 25 kV 2. Energy dispersive linear X-ray analysis of diffusion and reaction zone of Al-Co system. Instrument: 8230, 25 kV, 5 nA (on picture is not registered), DT: 18.0%, Count Rate: 9,973.00 CPS 3. Wavelength dispersive linear X-ray analysis of diffusion and reaction zone of Al-Co system. (in the same area). Instrument: 8230, 20 kV, 9.78 nA Dwell Time: 500.00 ms Al on TAP: Ka 1 Line Co on LiF: Ka 1 Line原始数据 1. 铝-钴（Al-Co）体系金属间化合物多层区的背散射电子图像（Backscattered Electron Image）。测试仪器：8230型，加速电压25 kV。 2. 铝-钴体系扩散与反应区的能量色散线性X射线分析。测试仪器：8230型，25 kV，束流5 nA（图像中未标注），死时间（Dead Time, DT）：18.0%，计数率（Count Rate）：9973.00 CPS（每秒计数）。 3. 铝-钴体系扩散与反应区（同一场区）的波长色散线性X射线分析。测试仪器：8230型，20 kV，束流9.78 nA，驻留时间（Dwell Time）：500.00 ms；铝元素采用TAP晶体分析Ka₁谱线，钴元素采用LiF晶体分析Ka₁谱线。