超大规模基板AOI检测技术设计及测试数据集

来源：针对超大规模基板AOI误报率高问题，通过对SMEMA控制盒、AOI设备、自动收板机及AI算法云系统的大量的软硬件调测、多场景兼容设计和迭代优化而输出的数据文件。 采集：通过中兴通讯生产基地现场3D AOI检测设备及自研测试平台CloudMAT平台+综合判定工装系统采集，并获得数据， 加工及其处理方式：中兴通讯股份有限公司对设计过程中设计文件及数据、实物照片、以及器件测试验证数据按照任务书要求和数据汇交计划进行设计、采购、分析和保存。