X-ray topography - TECHNO CLS diamond sample
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-1621655076
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资源简介：
X-ray topography (Rocking Curve diffraction imaging) of a diamond sample with Boron doping profile in epilayers (sample 2c, 4 periods, period sinus 14 µm). project Techno CLS for crystal undulator.
创建时间：
2027-01-01
