Aichmayr-Metrik Experimentelle Validierung via φ(t,r)

Dieses Projekt dokumentiert die erste hardwarebasierte Validierung der Aichmayr-Metrik mithilfe eines φ(t, r)-Messsystems auf ESP32-Basis. Das System vergleicht live Schwarzschild- vs. Aichmayr-Werte auf OLED-Displays mit hoher Übereinstimmung der gemessenen φ(t,r)-Werte mit den theoretisch berechneten.English: This dataset contains the hardware implementation of the Aichmayr metric compared to Schwarzschild using φ(t, r) computed on ESP32 systems. Live display confirms the theoretical predictions with experimental precision本项目首次借助基于ESP32平台的φ(t, r)测量系统，完成了艾奇迈尔度量（Aichmayr Metric）的硬件级验证。该系统可在有机发光二极管（OLED）显示屏上实时对比史瓦西（Schwarzschild）与艾奇迈尔的计算值，实测φ(t, r)值与理论计算结果高度契合。本数据集收录了基于ESP32平台计算φ(t, r)值的硬件实现方案，用于对比史瓦西度量与艾奇迈尔度量，其实时显示屏可通过实验精度验证理论预测结果。