Raw data: Characterization of nanocrystallised multilayered metallic materials produced by the SMAT followed by constrained compression
收藏doi.org2025-01-15 收录
下载链接：
http://doi.org/10.17632/z488ggd2r8.1
下载链接
链接失效反馈官方服务：
资源简介：
Optical, SEM, TEM images.
EDS analysis.
光学、扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）图像。能谱分析。
提供机构：
Mendeley Data
