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薄膜芯片与单模光纤的水平耦合第三方测试数据

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc8cebb16e07753c35648&type=1
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资源简介:
本数据集主要面向铌酸锂薄膜芯片与单模光纤耦合研究,对应项目任务书指标3.1,采用六维精密耦合位移台、光功率计等仪器,在第三方机构广州赛西标准检测研究院有限公司的相关工作人员在场开展测试,记录了铌酸锂薄膜芯片和光纤耦合过程的测试值,文件夹总大小5.45MB。
提供机构:
国家基础学科公共科学数据中心
搜集汇总
数据集介绍
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背景与挑战
背景概述
该数据集提供了铌酸锂薄膜芯片与单模光纤水平耦合的第三方测试结果,对应项目任务书指标3.1。测试在广州赛西标准检测研究院有限公司进行,使用精密仪器记录了耦合过程的测试值,总数据量约为5.5MB。
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