基于硅集成芯片的微波多普勒频移和到达角同步测量数据集

本数据集中论文提出了一种基于硅基集成芯片的多普勒频移和到达角测量系统，并进行了实验验证。通过高分辨率光学矢量分析仪对集成的双驱动马赫曾德尔调制器(DDMZM)和微环谐振器(MRR)的性能进行了测量，测出DDMZM和MRR的传输响应。通过光谱仪测量出两个带通滤波器(BPF)和MRR的响应曲线，并测出光信号经过MRR后和经过BPFs后的光谱图，通过频谱仪测得到多普勒频移(DFS)信号的电谱和谐波分量，通过示波器显示出在两个通道中正负方向的DFS信号的波形图像。文中也显示了所提出的测量系统的实测1dB压缩点和压缩动态范围，并进行了分析。为了进一步研究所提系统的可调性和准确性，DFS在±100kHz内以10、15和20 GHz的载波频率进行改变，对应的速度范围为±3, ±2和±1.5 km/s，测量出系统的DFS和误差以及实际速度和误差。在到达角(AOA)的测量中，通过电压控制移相器在接收信号之间引入相位差，测量了在10、15和20 GHz载频下相位差变化时DFS信号的实测功率，还使用电矢量网络分析仪测量了在10、15和20 GHz载频下的相移以及误差。为了验证系统稳定性，还测量了60分钟内的DFS的频率波动，测得其保持在±0.002 Hz范围内。数据量为：57.3MB。