低温4KB SRAM芯片性能测试数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=674241dc195d262b8b446cec&type=1
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资源简介：
本数据集基于4KB SRAM，进行芯片功能测试。数据集中测试数据是在上海微系统与信息技术研究所实验室测试得到的，数据采集过程中使用了泰瑞达公司生产的Magnum II测试机台等设备，发送并采集数据，用杜瓦罐提供4.2K的测试环境。
提供机构：
上海微系统与信息技术研究所
