Digital surface twin #Q36
收藏DataCite Commons2025-05-12 更新2025-06-14 收录
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资源简介:
AFM Contact and Tapping mode images
AFM model: veeco diinova
Resolution is limited by tip radius ~ 20nm
原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)接触模式与轻敲模式成像图
所用原子力显微镜型号:Veeco DiInova
成像分辨率受针尖曲率半径限制,约为20纳米。
提供机构:
contact.engineering
创建时间:
2025-05-12



