Overcoming_Data Scarcity_in_STM_Image_Segmentation

Scanning tunneling microscopy data for machine learning. Includes small crops of defects on Si(001), Si(001)-H-AsH3, Ge(001)-AsH3, TiO2. Includes segmented images of Si(001)-H-AsH3, Ge(001)-AsH3, TiO2. Images are segmented into 2 classes: defect or no defect.面向机器学习任务的扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscopy）数据集。 该数据集包含Si(001)、Si(001)-H-AsH3、Ge(001)-AsH3及TiO2表面缺陷的小尺寸裁剪图像。 数据集还涵盖Si(001)-H-AsH3、Ge(001)-AsH3及TiO2的语义分割图像，所有图像被划分为两类：含缺陷与无缺陷。