A multi-resistance wide-range calibration sample for conductive probe atomic force microscopy measurements
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Data of figure 3 of the paper:
A multi-resistance wide-range calibration sample for conductive probe atomic force microscopy measurements
François Piquemal, Khaled Kaja, Pascal Chrétien, José Morán-Meza, Frédéric Houzé, Christian Ulysse and Abdelmounaim Harouri
Beilstein J. Nanotechnol. 2023, 14, 1141–1148.https://doi.org/10.3762/bjnano.14.94
本论文图3所用数据集：导电探针原子力显微镜（conductive probe atomic force microscopy）测量用多阻值宽范围校准样本。
作者团队包括：弗朗索瓦·皮克马尔、哈立德·卡贾、帕斯卡尔·克里蒂安、何塞·莫兰-梅萨、弗雷德里克·乌泽、克里斯蒂安·于利斯及阿卜杜勒穆奈姆·哈鲁里。
该成果发表于《贝尔斯坦纳米技术杂志》（Beilstein J. Nanotechnol.）2023年第14卷，第1141-1148页，DOI：10.3762/bjnano.14.94
创建时间：
2024-09-05
