ALN6.zip
收藏Mendeley Data2024-06-29 更新2024-06-28 收录
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资源简介：
Impedance data of AlN thin-film device versus voltage, frequency. Data were measured with Agilent 4284A.
氮化铝（AlN）薄膜器件的阻抗数据随电压与频率的变化关系。该数据集由安捷伦（Agilent）4284A测量得到。
创建时间：
2023-06-28
