X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Vatican, Vatican Library Ms R...
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资源简介：
XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 90s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and UV light) analysis of inks from Vatican Library...
针对梵蒂冈图书馆馆藏墨水开展的X射线荧光光谱法（XRF）与反射成像分析：其中XRF测试采用Elio设备，参数设置为40kV、80μA，每个点位的测量时长为90秒；反射成像分析采用DinoLite设备，放大倍率为50倍，可借助可见光、近红外及紫外光源完成检测。
