Supplementary material
收藏aip.figshare.com2024-07-25 更新2025-01-16 收录
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资源简介：
The supplementary material describes the damage saturation model considered in the simulations in more detail. Further data and analysis of the AFM surface roughness measurements are provided there.
补充材料对模拟中考虑的损伤饱和模型进行了更为详尽的描述。此外，还提供了有关原子力显微镜（AFM）表面粗糙度测量的进一步数据和剖析。
提供机构：
AIP Publishing
