Supplement nr1
收藏DataCite Commons2023-12-26 更新2024-08-18 收录
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资源简介：
Additional data regarding the sample structure, as well as details on AFM and XRD characterizations.
关于样品结构的补充数据，以及原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）与X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）表征的详细信息。
提供机构：
AIP Publishing
创建时间：
2023-12-07
