Quantitative investigation of well contact impact on single event transient in sub-20 nm FinFET process
收藏科学数据银行2025-11-18 更新2026-04-23 收录
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资源简介：
The dataset of paper "Quantitative investigation of well contact impact on single event transient in sub-20 nm FinFET process"
论文《亚20纳米鳍式场效应晶体管（FinFET）工艺中单粒子瞬态（Single Event Transient）的阱接触（Well Contact）影响定量研究》的数据集
提供机构：
孙乾; 郭阳
创建时间：
2025-11-18
