Measured Contact Potential Difference (CPD) by Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM).
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Measured Contact Potential Difference (CPD) by Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM).
采用开尔文探针力显微镜（Kelvin Probe Force Microscopy，KPFM）测得的接触电势差（Contact Potential Difference，CPD）
创建时间：
2017-02-02
