CCD Scan 8044: NiFe_8044
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Calibration data set measured at Beamline 4.0.2 of the Advanced Light Source (Berkeley, CA) using the resonant soft x-ray scattering endstation. <em>Scan ID</em>: 8044 Calibration standard with 200-nm X 200-nm pitch
本校准数据集采集自美国加利福尼亚州伯克利的先进光源（Advanced Light Source）4.0.2号光束线，采用共振软X射线散射（resonant soft x-ray scattering）终端站完成测量。扫描编号（Scan ID）：8044；所用校准标准件的节距为200纳米×200纳米。
提供机构：
Zenodo创建时间：
2020-06-30
