二维材料高质量异质界面

二维薄膜材料异质界面数据，主要通过球差电镜研究异质结构的剖面获得，并辅以电子器件性质表征。数据类型为文件，数据量共118MB，共享方式为完全共享。数据类型为文件。数据内容主要包括产出论文和图片及原始数据。数据处理软件Origin加工，处理方式为去除奇异点，去除背底、平滑化等。来源于对二维材料异质结的界面表征。主要通过球差校正的高分辨透射电镜异质界面的剖面原子相，并辅于异质结构的电学性质表征。数据采集时间地点：国家纳米科学中心、北京大学；数据采集时间：2019.9.1-2024.8.31。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于二维材料的高质量异质界面，通过球差校正高分辨透射电镜获取剖面原子相数据，并结合电学性质表征。数据涵盖论文、图片及原始文件，总量为118MB，采集于国家纳米科学中心和北京大学，时间跨度为2019年至2024年。