双光束光存储系统纳米级控制精度数据

双光束光存储系统纳米级控制精度测试数据与“考核指标2.2搭建双光束低能耗光存储实验系统实现纳米级光存储系统控制”相对应，是课题2研究内容2研究产生的科学数据，并支撑“考核指标2.5专利及考核指标2.6论文”。 （1）数据内容：该数据集为双光束光存储系统纳米级控制精度测试过程中产生的数据，包括光存储系统中纳米位移台整体图片、纳米位移台精度测试报告、纳米材料成像原始数据以及软件处理优化后数据、系统成像纳米级控制测试过程中的软件截图。 （2）数据类型：图片、文件。 （3）数据量：5.50 MB。 （4）采集方案：光存储系统中纳米位移台的整体图片由手机相机拍摄获得。纳米位移台精度测试报告由PI公司提供获得。纳米材料成像原始数据通过自行搭建的双光束光存储系统采集获得。优化后成像数据通过ImageJ软件进行处理后获得。系统成像纳米级控制测试过程中的软件截图由Window系统自带截图软件获得。 （5）采集地点：上海理工大学 （6）采集时间：2021年12月-2024年11月。 （7）采集设备：纳米位移台图片数据由手机相机（华为Mate20）采集，纳米位移台精度测试的证明报告由PI普爱公司（www.pi-china.cn）提供，纳米材料成像数据由自行搭建的双光束光存储系统采集，系统测试成像图由系统自制软件采集并通过Windows自带截图软件截取。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于双光束光存储系统的纳米级控制精度测试，包含图片、文件等多种类型数据，总容量为5.50 MB。数据由上海理工大学在2021年12月至2024年11月期间采集，源自'超分辨纳米光信息存储技术研究'国家重点研发计划项目。