软物质辐照损伤数据集

软物质辐照损伤数据集是在自主搭建的超快电子显微镜上针对石蜡晶体C44H90收集的辐照损伤相关的数据。超快电子显微镜（UEM）中时间调节的脉冲电子成像能否减轻辐照损伤一直存在争议，本研究中，我们建立了基于超快激光系统的超快冷冻电镜设备，使用此设备对饱和的脂肪烃化合物，在不同的成像模式，温度和成像剂量率以及脉冲频率下，仔细统计了其衍射强度和相应临界电子剂量（Ne）的衰退曲线，从而对时间调节的脉冲电子束缓解辐照损伤问题进行了深入的探讨，为阐明辐照损伤的基本原理提供了参考。本数据集共计866G，包含3个温度条件（140K、200K、300K）、三种频率的发射模式（100kHz、200kHz、连续）以及单电子包和多电子包两种脉冲发射方式的石蜡衍射强度衰减统计数据。