等效单元像素分辨率试验数据集

等效单元像素分辨率试验数据集中主要数据为等效单元像素分辨率，是由本项目研发的基于超表面材料的单元结构周期和全息加密通道数目计算的，是考核指标之一；利用超高分辨场发射电镜拍摄样品的扫描电子显微图像，通过所拍摄的图片计算拓扑超构表面样品的单元结构的周期。根据拓扑超构表面样品的单元结构周期与拓扑超构表面样品的全息加密通道数目来计算等效单元像素分辨率。来源于成像实验中记录的扫描电子显微镜图像和四通道的全息加密与储存图像。