25GDFB芯片低温光谱数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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测试芯片低温光谱，我们直接采用Anritsu光谱仪MS9740A测试，具体为将芯片封装TO，N面贴在底座上面，然后将TO放入TO6200 三温测试机进行测试，其中温度可以控制到-40℃，给TO加电70mA，然后激射光由光谱仪接收分析
提供机构：
武汉光迅科技股份有限公司搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集包含25G DFB芯片在低温环境下的光谱测试数据，采用光谱仪在-40℃条件下对加电芯片进行激射光分析。数据源自国家重点研发计划项目'面向5G应用的光传输核心芯片与模块'，总数据量为7.47MB，包括3个文件。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
