新型高密度多值光盘材料和光盘结构的存储寿命测试数据集

Name: 新型高密度多值光盘材料和光盘结构的存储寿命测试数据集
Creator: 中国华录集团有限公司
Published: 2026-09-04T15:50:13+08:00

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该数据集为研发的新型高密度多值光盘材料和光盘结构存储寿命测试过程中产生的数据，包括不同温度老化测试后样品存储点区域的清晰灰度图像、不同温度老化测试后样品存储点区域x、y方向的灰度变化参数和预测的光存储寿命值。数据量101MB.

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