嵌入 RRAM的 SoC芯片数据

本数据集来源于嵌入RRAM的SoC芯片研发项目，系统记录了安全芯片与显示控制芯片两款产品的设计、仿真、版图、测试及实物数据，总数据量约333 MB。基于SMIC 28 nm RRAM工艺，通过V93000测试机台、示波器、万用表等设备完成芯片功能与性能测试，覆盖读写频率、ASIC操作频率、存储容量等性能。数据集包含内容：（1）芯片设计数据（1.25 MB），含RRAM存储模块、MCU控制、AI画质处理等模块设计文档与lib库文件；（2）芯片仿真数据（9.46 MB），记录RRAM IP读写功能仿真及VBO像素时钟（215MHz）仿真结果；（3）芯片版图数据（148 MB），为RRAM IP与芯片整体GDS版图；（4）芯片版图仿真数据（17.0 MB），含DRC、LVS、ANT、CMP等物理验证结果；（5）芯片测试数据（137 MB），包含安全芯片SM3/SM4算法性能测试原始数据（.dat），以及显示芯片的电学性能测试数据；（6）芯片实物数据（16.1 MB），含晶圆、封装芯片及测试板照片；（7）流片工艺文档（804 KB），记录PDK版本与工艺参数；（8）嵌入 RRAM的 SoC芯片数据。本数据集弥补了28nm工艺下RRAM集成SoC在消费电子场景中实测数据匮乏的短板，为高速、低功耗嵌入式存储技术的产业化落地与同类芯片研发测试提供可追溯的工程参考。