28nm RRAM 单元可靠性测试数据

本数据集中各项数据的测试过程及可靠性预测模型的建立，详细说明了对RRAM进行forming测试，retention可靠性测试施加的激励条件和操作方式以及预测模型的建立方式，并对数据进行预处理的方式和使用到的软件进行了举例说明。该数据集包含xls格式、py格式的文件。同时，详细解释了不同电学测试的结果数据文档中列表的含义和异同点。最后，对数据测试方式，模型结构，预测结果进行展示。