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任意序列发生器脉宽均值跳变测试
任意序列发生器脉宽均值跳变测试
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中国科学院中国科学技术大学科学数据中心
2026-01-10 收录
数字电路时序验证
高速接口信号完整性测试
数据链接:
https://sdc.ustc.edu.cn/dataDetails/srUaOJYBQwfvTVc53-N0
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资源简介:
本报告主要介绍了任意序列发生器中OSERDES输出均值跳变测试以及ODELAY加载测试的结果,并根据测试结果分析了前沿加载延时的影响。
应用场景:
提供机构:
中国科学技术大学物理学院
创建时间:
2023-05-23
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