零场磁化翻转SOT-MTJ器件
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-03-14 收录
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本数据集来源于国家重点研发计划“新型自旋轨道矩材料与高性能存内计算器件”项目(编号2021YFB3601300)的课题二,主要面向实现自旋存储器件高密度、高可靠性集成,并彻底简化外围电路设计的核心研究与应用需求。数据基于课题所研制的具备特殊结构设计(如对称性破缺界面、梯度各向异性等)的自旋轨道矩磁性隧道结器件,在严格电磁屏蔽的探针台环境中,通过高精度脉冲电流源、纳伏表及直流源表组成的测试系统产生。数据集系统记录了核心存储单元在无需外部磁场辅助下的电学写入特性,主要包含了器件的隧穿电阻随双向写入脉冲电流变化的完整回线关系、以及实现确定性“0”和“1”状态翻转的临界电流阈值等关键观测值。这些数据是直接验证“实现无外磁场辅助的确定性翻转”、“获得零场SOT-MTJ器件≥1种”等核心考核指标的决定性实验证据,标志着器件从原理验证迈向实际应用的关键一步,对于推动SOT-MRAM技术产业化具有至关重要的工程意义。数据集以结构化电学测试数据(CSV, TXT)、测试示意图及器件照片(JPEG)为主要内容,为存算一体架构中的底层器件设计与优化提供了关键的性能基准。
提供机构:
中国科学院物理研究所搜集汇总
数据集介绍

背景与挑战
背景概述
本数据集基于国家重点研发计划项目,系统记录了特殊结构设计(如对称性破缺界面、梯度各向异性)的自旋轨道矩磁性隧道结(SOT-MTJ)器件在无外部磁场辅助下的电学写入特性,包括隧穿电阻随双向脉冲电流变化的完整回线及确定性翻转的临界电流阈值。这些数据是验证零场磁化翻转性能的关键实验证据,为简化外围电路设计、推动高密度SOT-MRAM产业化提供了重要性能基准。
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