基于阻变存储器的模拟计算单元精度测试数据集

本数据集是课题2考核指标2.3：模拟计算单元精度第三方测试数据合集。主要关联课题2以下研究内容：基于阻变存储器的新型乘加计算单元，模拟乘加单元多比特实现和精度可调技术。课题通过设计基于阻变存储器的新型模拟乘加计算单元以及多比特实现技术，实现8-bit模拟计算单元测试验证，达到考核指标要求。数据集命名为基于阻变存储器的模拟计算单元精度测试数据集，数据量约为510KB，所有文件均存放在根目录下。4个图片文件分别命名为课题2-002-2025年1月第三方测试模拟计算单元精度-图1~图4.jpg。图1是测试流程示意图。所使用的测试系统和输入数据、控制指令，与模拟计算单元延时测试一致。图2为输入精度和权重测试结果。两个激活信号test_act_data_samp高电平之间包含8个test_ifsram_cen低电平使能信号，即输入精度为8bit；两个激活信号test_act_data_samp高电平之间包含8个test_inf_data_samp高电平RRAM数据采用信号，即权重为8bit。图3是PC端得到的模拟计算结果，结果为"FA"（16进制）。图4是8bit输出结果。观察ADC输出信号(tdo)，输出结果高4位为16进制F（即1111），低4位为16进制A（即1010），图上的tdo波形与PC端返回的模拟计算输出结果一致，即输出为8bit。