狄拉克半金属薄膜迁移率数据集

利用了低温输运技术，获得狄拉克半金属砷化镉薄膜的磁阻和霍尔数据，并分析得到其低温迁移率。数据量约860 KB。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集通过低温输运技术测量狄拉克半金属砷化镉薄膜的磁阻与霍尔效应，进而分析得出其低温迁移率参数。数据总量约860 KB，以PDF、OPJU和DOCX格式存储，共包含14个文件，由复旦大学修发贤团队创建，隶属凝聚态物理学领域。